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Systèmes Raman hybrides

Augmentez les capacités de votre Microscope Raman Renishaw en le couplant avec d’autres systèmes d’analyse provenant de nombreux fabricants.

Pour un maximum d’efficacité, vous pouvez utiliser deux techniques ou plus pour analyser votre échantillon sans avoir à le transférer d’un instrument à l’autre.

Grâce aux systèmes de microscopie corrélative de Renishaw, vous avez la certitude d’analyser le même point avec les deux techniques.

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Système hybride de microscope Raman inVia

SPM/AFM : Résolution nanométrique

Combinez le microscope Raman inVia avec un microscope-sonde à balayage (SPM), par exemple un microscope à force atomique (AFM), pour étudier les propriétés chimiques et structurelles des matériaux. Ajoutez une résolution chimique à l’échelle du nanomètre grâce à l’effet TERS, et obtenez des informations supplémentaires telles que les propriétés mécaniques ou topographiques.

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Système hybride Raman MEB SCA

Système Raman MEB

Combinez les capacités d’analyse Raman à un microscope électronique à balayage grâce à l’interface MEB-SCA Raman de Renishaw. Utilisez un MEB pour enregistrer des images haute résolution de votre échantillon et réalisez une analyse élémentaire par rayons X. Identifiez les matériaux et les composés non métalliques même quand ils ont la même stœchiométrie.

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Nanoindentation : mesure des propriétés mécaniques

Associez les mesures de nanoindentation à la puissance du microscope Raman inVia et corrélez directement les propriétés mécaniques et tribologiques avec les informations chimiques telles que la cristallinité, le polymorphisme, la phase et les tensions/contraintes.

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Système Raman inVia Hysitron

Lire un article du Microscopy and Analysis Journal

  • Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]

    A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.

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