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Systèmes Raman combinés ou hybrides

Augmentez la puissance d'analyse de votre inVia en le couplant avec d'autres systèmes d’analyse provenant de nombreux fabricants.

Pour un maximum d’efficacité, vous pouvez utiliser deux techniques ou plus pour analyser votre échantillon sans avoir à le transférer d'un instrument à l'autre. Grâce aux systèmes de microscopie corrélative de Renishaw, vous avez la certitude d’analyser le même point avec les deux techniques.

SPM/AFM : Résolution nanométrique

Combinez l'inVia avec un microscope-sonde à balayage (SPM), par exemple un microscope à force atomique (AFM), pour étudier les propriétés chimiques et structurelles des matériaux. Ajoutez une résolution chimique à l'échelle du nanomètre grâce à l’effet TERS, et obtenez des informations supplémentaires telles que les propriétés mécaniques ou topographiques.

MEB : images à fort grossissement et analyses élémentaires

Combinez les capacités d'analyse Raman de l'inVia à un microscope électronique à balayage grâce à l’interface MEB-SCA Raman de Renishaw. Utilisez un MEB pour enregistrer des images haute résolution de votre échantillon et réalisez une analyse élémentaire par rayons X. Ajoutez la puissance de la spectroscopie Raman pour identifier des matériaux et des composés non métalliques, même lorsqu'ils ont la même stœchiométrie (différenciation de polymorphes).

Nanoindentation: mesure des propriétés mécaniques

Réalisez des mesures permettant de corréler directement et in-situ les propriétés mécaniques obtenues par indentation avec les analyses chimiques complètes issues de la technologie Raman.

CLSM : images confocales

Si vous disposez d'échantillons ayant une structure 3D complexe (comme par exemple des cellules biologiques), vous pouvez ajouter un microscope confocal à balayage laser (CLSM) à votre inVia et corréler les images confocales obtenues par fluorescence et les images chimiques Raman.

Combinez pour plus de puissance

Les techniques d’imagerie corrélative peuvent fournir des informations uniques qui autrement resteraient ignorées. Pour avoir de plus amples informations sur la manière de coupler votre inVia à d'autres systèmes d'analyse, veuillez nous contacter.

Plus d’informations

Lire un article du Microscopy and Analysis Journal

L'article suivant, publié en avril 2015, est reproduit avec l'aimable autorisation du Microscopy and Analysis Journal/Wiley.

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