Sauter la navigation

Systèmes intégrés Raman-SPM/AFM

Vous pouvez associer la puissance de l'inVia aux microscopes en champ proche (SPM et AFM) pour étudier la composition, la structure et les propriétés des matériaux à l'échelle nanométrique.

Choisissez le meilleur système

Le système inVia est très souple ; Renishaw peut le coupler directement à de nombreux microscopes AFM et SPM provenant de fournisseurs tels que :

  • Bruker Nano Surfaces
  • Nanonics
  • NT-MDT
  • JPK
  • Park

Choisissez le microscope SPM/AFM le plus adapté à vos besoins.

TERS (tip-enhanced Raman scattering) : Raman exalté en champ proche

Certains systèmes inVia-AFM sont capables d'exploiter l'effet Raman exalté en champ proche (TERS). Cette technique passionnante utilise une pointe plasmonique effilée pour obtenir des informations chimiques Raman à l'échelle du nanomètre.

La cartographie par effet TERS complète les technologies StreamLine™ et StreamHR™, en permettant l'étude de vos échantillons avec la résolution spatiale nécessaire à votre application.

Efficacité maximale

Le bras articulé Renishaw effectue le couplage optique entre l’inVia et le microscope SPM/AFM. Le couplage direct par des miroirs permet d’obtenir une meilleure efficacité de couplage que par fibre optique. Vous obtenez vos données plus rapidement et avec un meilleur rapport signal-bruit.

L'alignement s'effectue aisément. Tous les systèmes intégrés comprennent un dispositif vidéo équipé d'une illumination en lumière blanche pour que vous puissiez visualiser clairement l'extrémité de la pointe AFM et le point de focalisation du laser pour le Raman, ce qui est essentiel pour travailler en mode TERS.

Même position, au même instant

Vos résultats sont fiables Obtenez vos données Raman et AFM simultanément au même point de l'échantillon, sans avoir à le déplacer. Cela garantit des résultats cohérents même si l'échantillon évolue dans le temps.

Un système complètement intégré

L'analyse est colocalisée ; il n'est pas nécessaire de déplacer l'échantillon d'un système à l'autre puis de vous lancer dans une recherche laborieuse pour faire coïncider les zones de mesures.

Deux utilisateurs peuvent manipuler d’une part le système Raman inVia et d’autre part le microscope SPM/AFM et ce, de manière indépendante et simultanée, sans compromis sur leurs performances. Vous disposez ainsi d'un système Raman d’un côté, d'un système SPM/AFM de l’autre ou encore d'un système intégré Raman-SPM/AFM.

Choisissez la meilleure configuration

Nos experts en AFM peuvent discuter avec vous de vos besoins spécifiques et ainsi vous orienter vers la meilleure intégration de l’inVia avec le système SPM/AFM le plus approprié. Contactez-nous pour savoir comment cette technologie peut améliorer la compréhension de votre échantillon à l'échelle nanométrique.

Galerie d'images

Plus d’informations

Actualités récentes

Le laboratoire de recherche de l’US Army associe Raman et AFM

Situé dans l’état du Maryland aux États-Unis, le laboratoire de recherche de l’US Army (ARL) étudie les matériaux de stockage d’énergie de façon électrochimique avec un instrument hybride composé d'un microscope confocal Raman inVia de Renishaw et d’un microscope à force atomique (AFM) Bruker Dimension Icon.

Un microscope confocal Raman inVia se connecte au microscope AFM Bruker Dimension Icon

Renishaw propose des solutions Raman-AFM intégrées depuis plus de 16 ans. L’AFM Bruker Dimension Icon à récement été ajouté à nos couplages possibles. Ce nouveau couplage démontre l’extrême souplesse du microscope confocal inVia de Renishaw, ainsi que sa capacité à s’interfacer avec une large gamme d’instruments analytiques.