Microscope confocal Raman inVia™ InSpect
Notre microscope Raman confocal le mieux vendu, optimisé pour les analyses de traces en laboratoires de criminalistique.
Identification de matières (pouvant être délicates ou prendre du temps avec d’autres techniques comme les poudres cristallines dures, les éclats de céramique et de verre) grâce à une analyse facile n’exigeant que peu ou pas de préparation.
Caractéristiques
Votre microscope Raman inVia InSpect vous apporte :
- Identification hautement spécifique - La microscopie Raman peut différencier les structures chimiques, même celles qui sont très proches.
- Résolution spatiale élevée - comparable à vos autres techniques microscopiques
- Gamme de techniques de contraste pour microscope - entre autres le contraste à fond clair, fond foncé et polarisation avec éclairage par lumière réfléchie et transmise
- Analyse de particules - utilisation d’algorithmes de reconnaissance d’image et de fonctionnalités de gestion d’instruments avancés pour caractériser les répartitions des particules
- Imagerie corrélative- création d’images composites par combinaison de données Raman à des images issues d’autres techniques de microscopie
Pour des informations plus détaillées, téléchargez la brochure sur inVia InSpect.
Empty Modelling™
Le logiciel Empty Modelling utilise une technique d’analyse multivariable pour décomposer des données complexes en leurs éléments constitutifs. Utilisez-le, conjointement avec une recherche en bibliothèque, pour analyser les données d’échantillons contenant des matériaux inconnus.
Mappage StreamHR™
Le mappage StreamHR harmonise le fonctionnement du détecteur haute performance des microscopes InSpect et de la platine de microscope MS30. Elle augmente la vitesse de collecte des données et permet de gagner du temps dans la génération des images.
Automatisation complète
Vous pouvez contrôler l’alignement, la calibration et les configurations par le biais du logiciel WiRE de Renishaw. Par exemple, vous pouvez passer rapidement – d’un simple clic – de la visualisation de l’échantillon à l’analyse Raman.
Applications
Résidus de tir
Le microscope inVia InSpect constitue un ensemble complet pour l’analyse des résidus de tir, quelle que soit leur origine, offrant des avantages pour la détection et l’identification des résidus organiques et inorganiques. Dans cette note, nous explorons certaines des principales caractéristiques et certains des avantages de la technique Raman pour l’analyse des résidus de tir.
Falsification de documents
Il existe de nombreux types d’encres différents ; les couleurs peuvent être les mêmes, mais elles peuvent être chimiquement différentes. L’analyse Raman réalisée à l’aide du microscope Raman inVia permet d’effectuer un contrôle rapide et non destructif des zones remises en question, avec la spécificité nécessaire pour distinguer des types d’encre similaires qui peuvent sembler identiques à l’œil nu.
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Téléchargements : Microscope Raman inVia InSpect
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Brochure: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The perfect addition for trace analysis in your forensic laboratory.
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Application note: GSR analysis with inVia InSpect [en]
Using Raman spectroscopy to analyse gunshot residue, an important class of trace evidence, relevant to investigations involving the alleged use of a firearm.
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Analysing paint samples with the inVia InSpect Raman microscope [en]
This application note explores some of the key features that make Raman spectroscopy so powerful for paint analysis, as part of the forensic microscopist’s trace analysis suite.
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Data sheet: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The Renishaw inVia InSpect confocal Raman microscope has been optimised for use in forensic laboratories for trace analysis.
Caractéristiques
Paramètre | Valeur | |
| Plage de longueur d’onde | 200 nm à 2200 nm | |
| Lasers pris en charge | De 229 nm à 1064 nm | |
| Résolution spectrale | 0,3 cm-1 (LTMH) | Maximale généralement nécessaire : 1 cm-1 |
| Stabilité | < ±0,01 cm-1 | Variation de la fréquence centrale de la bande Si avec ajustement de la courbe de 520 cm-1, suite à des mesures répétées. Obtenue au moyen d’une résolution spectrale supérieure ou égale à 1 cm-1 |
| Coupure à faible nombre d’onde | 5 cm-1 | Minimale généralement nécessaire : 100 cm-1 |
| Coupure à haut nombre d’onde | 30 000 cm-1 | Standard : 4 000 cm-1 |
| Résolution spatiale (latérale) | 0,25 µm | Standard : 1 µm |
| Résolution spatiale (axiale) | < 1 µm | Standard : < 2 µm. En fonction de l’objectif et du laser |
| Taille du détecteur (standard) | 1024 pixels × 256 pixels | Autres options disponibles |
| Température de service du détecteur | -70 °C | |
| Filtres Rayleigh pris en charge | Aucune limite | Jusqu’à quatre jeux de filtres sur monture automatisée. Jeux de filtres supplémentaires illimités pris en charge par des montures cinématiques à localisation précise interchangeables par l’utilisateur |
| Nombre de lasers pris en charge | Aucune limite | Un en standard. Au-delà de 4, les lasers supplémentaires exigent un montage sur table optique |
| Commande par PC Windows | Dernière spécification du PC Windows® | Inclut poste de travail PC, écran, clavier et dispositif de pointage |
| Tension d’alimentation | 110 Vca à 240 Vca +10 % à 15 % | |
| Fréquence d’alimentation | 50 Hz ou 60 Hz | |
| Consommation type (spectromètre) | 150 W | |
| Profondeur (systèmes à deux lasers) | 930 mm | Plaque d’adaptation pour deux lasers |
| Profondeur (systèmes à trois lasers) | 1116 mm | Plaque d’adaptation pour trois lasers |
| Profondeur (système compact) | 610 mm | Jusqu’à trois lasers (en fonction du type de laser) |
| Masse type (sans lasers) | 90 kg |