Spécifications
| Format de données |
Numérique - quadrature RS422
Analogique - sinus/cosinus 1 V (crête à crête). |
| Résolution |
Numérique - sélectionnable à 10 nm (avec cible optique à miroir plan)
Analogique - subnanométrique par interpolation externe (interface parallèle RPI20 par exemple) |
| Vitesse maximale |
1 m/s (avec cible optique à miroir plan) |
| Type de laser |
HeNe (Hélium / Néon), longueur d'onde 632,8 nm NTP, Classe II |
| Stabilité de fréquence laser |
±50 p.p. 109 (RLU10) sur toute période d'une heure
±2 p.p. 109 (RLU20) sur toute période d'une heure |
| Durée de vie du laser |
>50 000 heures |
| Longueur maximale d'axe |
1 m (avec optique cible à miroir plan) |
Pour les applications hors vide, une forme de compensation d'indice de réfraction est nécessaire pour maintenir la précision en conditions environnementales variables. Pour compenser ces fluctuations, Renishaw propose le RCU10, son système de compensation à quadrature en temps réel.
On peut ainsi obtenir des résolutions atteignant 38,6 picomètres en intégrant une interface parallèle RPI20 au système RLE. Cette interface accepte des signaux différentiels analogiques sinus/cosinus 1 V (crête à crête) et produit une sortie à format parallèle. Voir Accessoires pour en savoir plus sur le système de compensation RCU10, le RPI20, les autres équipements auxiliaires des systèmes RLE et l'échelle laser longue portée HS10.
Les systèmes RLE X-Y (plans) comprennent une unité laser RLU à double axe et deux têtes de détection (configurées pour des cibles optiques à miroir plan). Le choix d'unité laser dépend en grand partie du milieu d'exploitation. Le RLU20 convient particulièrement bien aux applications sous vide et en environnements contrôlés. Les unités laser RLU10 s'utilisent dans les systèmes RLE10 et les unités laser RLU20 dans les systèmes RLE20.