Système AFM-Raman

Découvrez l'échelle nanométrique

Des instruments combinés AFM/Raman (aussi appelés SPM-Raman) permettent d'effectuer de meilleures analyses d'échantillons en étudiant les propriétés chimiques et structurelles de matériaux à des échelles de distances submicrométriques.

Renishaw a mis au point la technologie de couplage direct optimisé qui fait du microscope Raman inVia le partenaire idéal d'une large de gamme de SPM (microscopes-sondes à balayage) proposant la technique TERS (Tip-Enhanced-Raman-Scattering/Raman en champ proche), les techniques de microscopie optique en champ proche à balayage (SNOM, NSOM) et les fonctionnalités AFM-Raman.

Le microscope Raman inVia peut être couplé à n'importe quel SPM ou AFM avec des systèmes entièrement intégrés disponibles avec des scanners NT-MDT et Nanonics Imaging Ltd.

Visualisations de nanotechnologie et systèmes d'analyse pour la recherche et l'industrie

Maximisez votre productivité

Seul Renishaw est en mesure de proposer des systèmes entièrement intégrés utilisant les scanners NT-MDT et Nanonics Imaging Ltd. Avec les systèmes AFM-Raman de Renishaw :

• vous disposez de plus de temps avec les systèmes intégrés – l'intégration mécanique et logicielle étant complète, vous pouvez vous concentrer sur la collecte et l'analyse des données.
• l'acquisition des données est plus rapide – le couplage direct entre l'échantillon et le spectromètre Raman donne une efficacité maximale dans toutes les configurations.
• vous faites confiance aux experts - les premières mesures TERS sur un semi-conducteur (publié 2001) et les premières mesures AFM-Raman/NSOM (1995) ont été réalisées sur des systèmes Raman de Renishaw.
• À vous de choisir - Renishaw a l'expérience et le savoir-faire nécessaires pour intégrer votre choix de système SPM.

Qu'est-ce qu'un système SPM-Raman Renishaw peut vous apporter ?

AFM avec Raman
Vous pouvez acquérir des données de palpage par scanning avec une résolution spatiale élevée et des données Raman à champ lointain rapides (normalement avec une résolution sub-micrométrique). Les données Raman peuvent être enregistrées et corrélées avec des données topographiques, électriques, thermiques et optiques en champ proche à un niveau élevé de résolution spatiale.

L'analyse Raman d'un échantillon de graphène (voir l'image sur la droite) a identifié cinq épaisseurs distinctes de graphène, entre autres des régions à une couche et à deux couches. Les données Raman ont été exploitées pour guider des expériences SPM permettant des mesures de topographie, de capacité et de conduction dans les régions d'intérêt.

TERS (ou Raman en champ proche "apertureless")
Une pointe est utilisée pour renforcer le signal Raman au niveau d'une région très localisée de l'échantillon, à l'intérieur d'une région plus grande éclairée au laser. De toutes les techniques Raman, cette configuration est celle qui offre la résolution spatiale la plus élevée.

On peut démontrer la supériorité de la sensibilité spatiale du TERS en utilisant des matériaux en couches. L'image ci-contre compare le spectre en champ proche (TERS) et en champ lointain d'une fine couche de silicium sur SiGe. La sensibilité élevée en surface du TERS produit une bande Raman "silicium" bien plus intense (à une fréquence Raman plus basse que la bande Raman SiGe à partir du matériau solide).

Pour comprendre comment cette technologie peut vous faire découvrir l'échelle nanométrique, ou pour en savoir plus sur l'intégration des modèles SPM ou AFM au microscope Raman inVia, remplissez le formulaire de demande en ligne, ou contactez votre Représentant Raman Renishaw local

Applications

Découvrez la richesse des applications du système Raman Renishaw

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