Palpeur à contact compact RMP40

Le plus petit palpeur Renishaw avec transmission radio à saut de fréquence.

Le RMP40 est un nouveau venu dans la famille des palpeurs de contrôle Renishaw. C'est le plus petit palpeur radio FHSS (spectre étalé à sauts de fréquences) Renishaw, et il convient parfaitement à toutes les tailles de centres d'usinage.

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À propos du RMP40

Palpeur RMP40 ultra-compact à transmission de signal radio Il combine la miniaturisation de l'OMP40-2 aux fonctionnalités radio des RMP60 et RMP600. Il utilise la bande passante 2,4 GHz qui est conforme à la réglementation mondiale les émissions radio et est compatible avec n'importe quel interface/récepteur Renishaw RMI.

Avec le RMP40, les centres d'usinage dotés de petites broches coniques et de type HSK peuvent désormais tirer parti de la transmission radio FHSS. Elle est idéale pour les applications de fraisage multiaxe où la visibilité entre palpeur de contrôle et interface ne peut pas toujours être maintenue.

RMP40M

RMP40M et LP2 Le RMP40M est également disponible pour le contrôle par palpage d'entités de pièces auxquelles le RMP40 standard ne pourrait pas accéder. Il permet la pose d'adaptateurs, d'allonges et du palpeur tactile LP2 Renishaw.

Caractéristiques et avantages du RMP40

Réglage simple
Contrairement aux systèmes à fréquences fixes, il n’est pas nécessaire d’attribuer un canal radio spécifique au RMP40.

Compact et robuste
Le RMP40 convient parfaitement aux machines de toutes tailles et peut accéder à des surfaces usinées avec des outils courts. Son boîtier robuste en acier inoxydable le rend idéal dans les environnements de machines-outils les plus agressifs.

Idéal pour les installations en rétrofit
Comme on peut positionner la RMI (qui combine antenne, interface et récepteur) n’importe où près de la machine, son installation est rapide.

Transmission par spectre étalé à sauts de fréquence
La transmission FHSS Renishaw pour palpeurs signifie que le RMP40 et la RMI sautent les fréquences ensemble pour donner des communications fiables.

Miniaturisation
La miniaturisation de l'électronique a permis la mise au point de palpeurs radio ultra compacts ne mesurant que 40 mm de diamètre et 50 mm de longueur – les plus petits systèmes de palpage radio de Renishaw.

Programmation simple et sûre
La logique de déclenchement (Trigger Logic™) brevetée permet aux utilisateurs de configurer le système sans accéder aux composants internes du palpeur.

Options logicielles du RMP40

Les logiciels suivants servent à préparer des sous-programmes de réglage et de contrôle de pièces sur centres d’usinage à CN.

  • EasyProbe – Logiciel d'entrée de gamme pour le réglage de pièces simples
  • Inspection – Cycles élémentaires de réglage et de contrôle de pièces avec mise à jour automatiques des correcteurs
  • Inspection Plus – Ensemble comprenant des cycles d'inspection intégrés, y compris de mesure vectorielle
  • Productivity+™ Active Editor Pro – Logiciel PC à interface graphique permettant à l’utilisateur de sélectionner des éléments directement à partir d’un modèle CAO importé, ce qui facilite encore plus la production des cycles de palpage.

Informations complémentaires

Pour connaître les spécifications produits ou obtenir une nomenclature complète, reportez-vous au Manuel d'installation ci-dessous.

Documentation marketing

Fiche technique

Manuel illustré

Manuel d’installation

  • Manuel d’installation: RMP40 – palpeur radio [1.9MB] Manuel d’installation: RMP40 – palpeur radio

    RMP40 est le plus petit palpeur radio FHSS (spectre étalé à sauts de fréquences) que propose Renishaw et il convient parfaitement à toutes les dimensions de centres d'usinage. Le RMP40 combine la miniaturisation de l'OMP40-2 avec les fonctionnalités radio utilisées dans le RMP60 et RMP600.

  • Information leaflet: Styli recommendations for kinematic inspection probes [96kB] Information leaflet: Styli recommendations for kinematic inspection probes [English]

    A range of factors combine to provide the right styli for the right job. Successful gauging depends very much on the ability of the probe’s stylus to access a feature and then maintain accuracy at the point of contact. The choice of materials for the stylus tip and stem is critical.

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